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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscopy，AFM）是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡技術(shù)，通過(guò)檢測(cè)探針與樣品表面之間的微弱相互作用力來(lái)繪制出樣品表面的三維形貌圖。在AFM中，探針的選擇對(duì)成像質(zhì)量和測(cè)量精度至關(guān)重要。膠體探針作為一種特殊的AFM探針，因其性質(zhì)和廣泛的應(yīng)用而受到關(guān)注。原子力顯微鏡膠體探針的基本工......
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緊湊型原子力顯微鏡基于量子力學(xué)中的隧道效應(yīng)原理工作。當(dāng)兩個(gè)物體之間的距離非常接近時(shí)，它們之間的電子云會(huì)發(fā)生重疊，從而產(chǎn)生隧道電流。通過(guò)測(cè)量這個(gè)隧道電流的變化，可以精確地探測(cè)到樣品表面的微小結(jié)構(gòu)和形貌。具有亞納米級(jí)的分辨率，能夠清晰地觀察到原子級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)。它不僅可以提供二維圖像，還可以進(jìn)行三維形貌重構(gòu)，為研究材料的表......
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多功能掃描探針顯微鏡是一種強(qiáng)大的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對(duì)材料的表面形貌、物理性質(zhì)、化學(xué)性質(zhì)等進(jìn)行綜合分析。SPM家族中最常見(jiàn)的兩種類型是掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）。這些顯微鏡不僅在科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用，也在材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域找到了廣泛的應(yīng)用。SPM的工作原理基于探針與......
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多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種具靈活性和高分辨率的表面分析儀器，它不僅能夠提供材料表面的三維形貌圖像，還能在納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行操控和性質(zhì)測(cè)量。這種顯微鏡的出現(xiàn)極大地推動(dòng)了材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究進(jìn)展。原子力顯微鏡利用一根尖銳的探針在樣品表面掃描，通過(guò)檢測(cè)探針與樣品表面相互作用力的變化來(lái)獲得樣品表面的......
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