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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscopy，AFM）是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡技術(shù)，通過檢測(cè)探針與樣品表面之間的微弱相互作用力來繪制出樣品表面的三維形貌圖。在AFM中，探針的選擇對(duì)成像質(zhì)量和測(cè)量精度至關(guān)重要。膠體探針作為一種特殊的AFM探針，因其性質(zhì)和廣泛的應(yīng)用而受到關(guān)注。原子力顯微鏡膠體探針的基本工......
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緊湊型原子力顯微鏡基于量子力學(xué)中的隧道效應(yīng)原理工作。當(dāng)兩個(gè)物體之間的距離非常接近時(shí)，它們之間的電子云會(huì)發(fā)生重疊，從而產(chǎn)生隧道電流。通過測(cè)量這個(gè)隧道電流的變化，可以精確地探測(cè)到樣品表面的微小結(jié)構(gòu)和形貌。具有亞納米級(jí)的分辨率，能夠清晰地觀察到原子級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)。它不僅可以提供二維圖像，還可以進(jìn)行三維形貌重構(gòu)，為研究材料的表......
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多功能掃描探針顯微鏡是一種強(qiáng)大的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對(duì)材料的表面形貌、物理性質(zhì)、化學(xué)性質(zhì)等進(jìn)行綜合分析。SPM家族中最常見的兩種類型是掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）。這些顯微鏡不僅在科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用，也在材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域找到了廣泛的應(yīng)用。SPM的工作原理基于探針與......
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多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種具靈活性和高分辨率的表面分析儀器，它不僅能夠提供材料表面的三維形貌圖像，還能在納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行操控和性質(zhì)測(cè)量。這種顯微鏡的出現(xiàn)極大地推動(dòng)了材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究進(jìn)展。原子力顯微鏡利用一根尖銳的探針在樣品表面掃描，通過檢測(cè)探針與樣品表面相互作用力的變化來獲得樣品表面的......
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